9月3日下午，深圳展芯科技公司总经理郑博应邀为信息系学子做了“芯片检测技术”专题报告，报告会由信息系教科办公室主任安新军主持，信息系09级毕业生同学参加了报告会。
报告会上，郑博首先介绍了展芯FIB实验室相关设备性能参数，并对SEM扫描电镜特点、LC液晶热点应用、激光切割应用、C-sam应用进行详细讲解。随后，他从探针台设备研发技术入手，对PT系列探针台、SP系列探针台、CM系列探针座等研发技术进行了分析。交流互动环节，郑博对同学们在芯片检测方面的疑惑进行了细致解答，对同学们将来就业方向选择等问题给予了指导建议。（文：宋志刚 编辑：李亚宁）
|
|
|
